尚磊科技發表奈米無塵洗淨技術ULTRACLEAN
- 2024-01-04
- 公司新訊
尚磊奈米無塵洗淨技術
以晶圓洗淨技術清洗無塵衣:自RCA SC1標準洗淨法發想
半導體製造過程中,有塵粒附著在晶圓上時,會造成局部缺陷(pattern defect)。
RCA SC 1 (NH4OH+H2O2+DIW)為廣泛應用於晶圓洗淨的技術。
尚磊科技獨創奈米無塵洗淨技術ULTRACLEAN
尚磊科技深耕無塵洗衣技術二十餘年,將SC1中的氨水(NH4OH),以奈米氫氧根負離子水取代,結合自行研發的洗淨程式與藥劑配方,獨創ULTRACLEAN奈米無塵洗淨技術。
經實證,ULTRACLEAN奈米無塵洗淨技術相較傳統無塵洗衣,能有效減少無塵衣洗後一半以上的發塵量。
無塵洗衣技術 |
ULTRACLEAN |
傳統無塵洗衣 |
≧0.3mm微粒子數(乾測法) |
70.7* |
146.1* |
*同一件無塵衣經穿著使用,每週清洗一次的檢測平均值。不同的無塵衣可能有不同的檢測值。